被引用件数/パテントファミリー出願国数などの「統計情報」で選択できる項目について、「上位特許リスト」の種別を選択できます。
上位特許リストで選択可能な項目は、以下のとおりです。
共通>統計関連>
・原出願数
・請求項数(付与)
・被引用件数(JP・US)
・被引用件数(自己引用除く)(JP・US)
・引用件数(国内)
・引用件数(自己引用除く)(国内)
・引用件数(国外)
・スコア
・パテントファミリー出願国数
日本(JP)>統計関連>
・請求項数(出願)(JP)
・審査請求数(JP)
・出願人数(JP:最新)
・発明者数(JP:最新)
・出願人数(JP:出願)
・発明者数(JP:付与)
・権利者数(JP:最新)
Related Articles
データテーブルの表示
マップの上部にある「データテーブル」ボタンを選択すると、マップの隣にデータテーブルが表示されます。 ボタンのクリック回数に応じてマップとテーブルの表示割合を変更できます。 1回目:マップ7割/データテーブル3割 2回目:マップ5割/データテーブル5割 3回目:マップ上部、データテーブル下部 4回目:データテーブルのみ 5回目:マップのみ(デフォルト)
引用マップ分析
引用マップ分析は、1.左操作ペインと、2.グラフ描画エリアと、3.文献詳細ペインから構成されています。 1. 左操作ペイン 各種フィルター処理を行うためのフォームが表示されるエリアです。以下のフィルターは、再検索を行わず、検索結果の範囲内でフィルター処理が行われます。母集団を変える場合は、検索条件を変更して再検索を行って下さい。 ...
マップ分析事例集
Patentfieldのマップ機能を利用したマップの作成方法と分析事例を紹介します。 分析事例は順次拡大していきます。 特定企業の特許出願推移分析 特許出願推移を分析することで、以下のような考察が得られます。 ・特許取得/活用に対する意識や関心の高さ ・研究開発への注力度(特許=研究開発の成果物) 特定企業の技術分野別の特許出願推移分析 技術分野別の出願推移を分析することで、以下のような考察が得られます。 ・継続的に技術開発している技術分野はどこか(主力事業) ...
マップで描画できる上限件数
「1.グラフエリア」では、検索結果の集合を集計して、様々な軸でマップを描画できます。 システム負荷の関係上、集計できる検索結果の集合の件数は50万件が上限です。 50万件以上の検索結果となる場合、集計結果が途中で打ち切られているため、ご注意ください。 たとえば、検索結果では2001年〜2017年の特許が含まれるのに、集計では2001年〜2010年までしか集計されていないなど。 50万件以上の母集合を集計する場合は、オプションのご契約が必要となりますので、こちらからご相談下さい。
パテントマップの作成方法
マップの基本操作方法は、こちらをご参照ください。 用途別のパテントマップ作成方法については、下記リンクをご参照ください。 ・競合企業の可視化・分析方法 ・技術動向の可視化・分析方法 グラフ操作画面の操作方法等については、こちらをご参照ください。