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テーマコード
日本の最新のテーマコードは以下を参照して下さい。 https://www.jpo.go.jp/shiryou/s_sonota/themecode.htm
IPC
最新の国際特許分類(IPC)のコード体系は以下をご参照下さい。 https://www.jpo.go.jp/shiryou/s_sonota/kokusai_t/ipc8wk.htm http://www.wipo.int/classifications/ipc/en/ フィルター（詳細）、コマンド検索では、IPC, FI, Fタームで末尾に.(ドット)をつけることにより、下位分類をまとめて検索することができます。たとえば、以下の例では、"G06F19/00 G06F19/10 ...
再公表特許の廃止に伴う対応
概要 日本特許庁の公報システム刷新の発表に伴い、2022年1月22日から再公表特許が廃止されました。 再公表特許は、日本特許庁に出願された日本語の国際出願について、国際公開後に、日本特許庁が国内向けに発行する公報です。 これまでは、先行技術調査に必要な技術情報の提供を目的とする行政サービスとして公開特許公報に収録されていましたが、法律上の公報ではないため、上記のとおり廃止となりました。 ...
技術動向の可視化・分析方法
パテントマップで「技術動向」を可視化するには、分析対象となる母集合を、特許分類やキーワードを組み合わせて作成する必要があり、特許検索に不慣れな方にとってはハードルの高いものとなっていました。PatentfieldのAIセマンティック検索機能を利用することで、検索式を作成することなく、簡単な操作で母集合を作成することができます。 ...
PFスコア/出願件数/ユーザー評価値などを軸にした散布図（分布図）の作成方法
散布図（分布図）は、横軸と縦軸の2つの項目で量を計測して、その分布をプロットしたグラフです。 プロットされた分布から2つの変数に相関関係があるかどうかを確認できます。 散布図の作成方法 検索実行後、マップ機能のグラフ種類の選択で、「散布図」を選択すると表示されます。 散布図で表示できる集計条件（マップで表示する項目）は、「出願人」「発明者」「特許分類(IPC/CPC/FI/Fターム/etc...)」「技術分類」などです。 散布図のX軸・Y軸の項目を変更する ...