データ可視化（パテントマップ）
PFレポート
PFレポートは、複数グラフを一画面に同時表示することができ、より効率的に多角的な特許分析ができます。 標準機能では、プリセットチャートを最大2つまで選択できます。ユーザーチャートはご利用いただけません。 プリセットチャートを2つ以上表示したい場合、ユーザーチャートを使用した場合は、別途PFレポートオプションの契約が必要です。 活用シーン シーン1:特許分析業務の効率化 これまでの課題：特許分析にはまずマップを作成する必要があり、分析をするためのマップ作成に時間がとられていました。 ...
特許分類の意訳表示
マップ機能の集計条件で特定の特許分類を選択したときに、Patentfieldが独自に意訳した特許分類の説明文を表示できます。 特許分類の正規の説明文は長文で分かりづらい場合がありますが、AIにより短文で理解しやすい表現に意訳しています。 意訳表示には、IPCとFIが対応しています。詳細は、「意訳表示に対応している特許分類項目」を参照してください。 意訳表示に対応している特許分類項目 共通＞特許分類関連＞ IPCセクション/IPCクラス/IPCサブクラス/IPCメイングループ/IPC ...
マップの軸ラベル名の編集（ラベル名設定表）
マップのX・Y軸に表示される項目のラベル名は、ユーザーが任意に編集することができます。 編集することで、マップに表示される出願人名・IPC・FI等の説明文を、任意の文字列やキーワードに変更できます。 ラベル名の編集方法 ラベル名を編集する場合は、「集計条件を設定」を選択して、「ラベル名設定表」をクリックします。 表内の「別名」に、マップ上で表示させたい文字列を記入して、「適用」をクリックすると、「別名」で設定した文字列がマップ上に表示されます。 シングル集計時の注意点 ...
クロス集計時に絞り込む
「クロス集計時に絞り込む」スイッチは、マップの集計条件をクロス集計（マップを２軸以上に設定）にした場合に、検索結果の件数に影響を与える機能です。 デフォルトではスイッチはOFFになっており、マップの集計条件をクロス集計にした場合でも、検索結果の件数は変動しません。 スイッチをONにすると、クロス集計時に検索結果の件数が変動します。 具体的には、マップに描画されている件数に応じて検索結果の件数も変動します。 ...
上位特許リスト
被引用件数/パテントファミリー出願国数などの「統計情報」で選択できる項目について、「上位特許リスト」の種別を選択できます。 上位特許リストで選択可能な項目は、以下のとおりです。 共通>統計関連> ・原出願数 ・請求項数(付与) ・被引用件数(JP・US) ・被引用件数(自己引用除く)(JP・US) ・引用件数(国内) ・引用件数(自己引用除く)(国内) ・引用件数(国外) ・スコア ・パテントファミリー出願国数 日本(JP)>統計関連> ・請求項数(出願)(JP) ・審査請求数(JP) ...
データテーブルの表示
マップの上部にある「データテーブル」ボタンを選択すると、マップの隣にデータテーブルが表示されます。 ボタンのクリック回数に応じてマップとテーブルの表示割合を変更できます。 1回目:マップ7割/データテーブル3割 2回目:マップ5割/データテーブル5割 3回目:マップ上部、データテーブル下部 4回目:データテーブルのみ 5回目:マップのみ（デフォルト）
スコア集計とスコア平均化
マップで表示される集計件数は、原則は出願件数が表示されます。 マップの右上にあるコマンドの「スコア集計」を選択すると、スコア設定で選択しているスコア条件の値に置き換えることができます。 ※スコア設定を「PFスコア」に切り替えると、自動的に「スコア集計」がONになり、マップにスコア値（PFスコアの値）が表示されます。 スコア集計では、スコアの総計が表示されますが、「スコア平均化」コマンドをクリックして、検索を実行すると、スコア/出願件数の値になり、1件あたりの平均値が表示されるようになります。
PFスコア/出願件数/ユーザー評価値などを軸にした散布図（分布図）の作成方法
散布図（分布図）は、横軸と縦軸の2つの項目で量を計測して、その分布をプロットしたグラフです。 プロットされた分布から2つの変数に相関関係があるかどうかを確認できます。 散布図の作成方法 検索実行後、マップ機能のグラフ種類の選択で、「散布図」を選択すると表示されます。 散布図で表示できる集計条件（マップで表示する項目）は、「出願人」「発明者」「特許分類(IPC/CPC/FI/Fターム/etc...)」「技術分類」などです。 散布図のX軸・Y軸の項目を変更する ...
パテントマップの作成方法
マップの基本操作方法は、こちらをご参照ください。 用途別のパテントマップ作成方法については、下記リンクをご参照ください。 ・競合企業の可視化・分析方法 ・技術動向の可視化・分析方法 グラフ操作画面の操作方法等については、こちらをご参照ください。
等高線チャート
可視化の軸で「特徴キーワード」を選択すると「等高線チャート」で可視化ができます。（クロス集計なしの場合） 等高線チャートは母集団の特徴キーワードを集計し、母集団の中で出現回数が多い特徴キーワードを表示します。 出現回数が多いほど青色が濃く表示されます。 マップ中のキーワード同士の距離は、キーワード同士の共起関係を表しで、同一公報内でキーワード同士が多く出現している公報が多いほど、距離が近くなります。 マップに描画されるキーワード数はデフォルトで10件です。 ...
集計条件を設定（マップ表示条件の設定）
概要 Patentfieldのマップ機能は、以下のデフォルト条件に従って表示されます。 ・期間系：直近10年分（出願年,公開年,登録年,など） ・それ以外：件数の多いTOP10件（出願人,特許分類,出願国,など） 例えば、「出願年」を軸にして、特定の期間（2000年から2015年）でマップを表示したいような場合には、「集計条件を設定」で編集ができます。 ＊「集計条件を設定」で編集できる内容 例）特定の期間（2000年から2020年）でマップを表示したい ...
引用マップ分析
引用マップ分析は、1.左操作ペインと、2.グラフ描画エリアと、3.文献詳細ペインから構成されています。 1. 左操作ペイン 各種フィルター処理を行うためのフォームが表示されるエリアです。以下のフィルターは、再検索を行わず、検索結果の範囲内でフィルター処理が行われます。母集団を変える場合は、検索条件を変更して再検索を行って下さい。 ...
名寄せ辞書
特定の項目（例：出願人）について、ユーザーが任意に抽出した条件で、名寄せグループを作成することができます。 以下では、「出願人」の項目を例に、下記大学の名寄せグループを作成する操作方法を紹介します。 グループa：京都大学、名古屋大学、九州大学 グループb：東京大学、東北大学、東京工業大学 操作方法 １．トップ画面右上の「歯車マーク」→「マイアカウント」をクリックします。 ２．マイアカウントページの「名寄せ辞書」をクリックします。 ...