発明者の出願分野動向を分析したい

発明者の出願分野動向を分析したい

企業に所属する発明者が、過去にどの技術分野で出願して、いまはどの技術分野で特許出願しているのかを分析する方法について解説します。

検索実行後、マップ画面において、集計条件で以下のように設定します。
「発明者(JP:最新)」×「出願年」×「テーマコード」 「パイチャート」


上図のように、時系列にそって各発明者がどのような技術分野(テーマコード)で出願しているかを、可視化できます。

また、マップ右上にある「集計条件を設定」を選択し、「発明者(JP:最新)」タブで、任意の発明者を選択することで、
選択した発明者のみをマップ上に表示させることもできます。



以下の設定コードを使用することで、同じマップをPatentfield上で再現することができます。
設定コードについては、以下リンク先をご参照ください。

{
    "q": "国立大学法人京都大学",
    "targets": ["applicants"],
    "group_conditions": [
        {"key":"app_year","unit":"day","calc_targets":[]},
        {"key":"pub_year","unit":"day"},
        {"key":"exam_year","unit":"day"},
        {"key":"patent_taggings"},
        {"key":"pre_train_label"},
        {"key":"train_label"},
        {"key":"pre_predict_label"},
        {"key":"predict_label"},
        {"key":"kinds"},
        {"key":"country"},
        {"key":"family_countries"},
        {"key":"ipc_subclasses"},
        {"key":"themes"},
        {"key":"uspc_classes"},
        {"key":"locarnos"},
        {"key":"std_applicants"},
        {"key":"apm_attorney_offices"},
        {"key":"apm_attorneys"},
        {"key":"cross_applicants"},
        {"key":"cross_en_applicants"},
        {"key":"us_grant_attorneys"},
        {"key":"ep_app_attorneys"},
        {"key":"wo_attorneys"},
        {"key":"apm_detail_app_final_exam"},
        {"key":"apm_detail_app_final_decision"},
        {"key":"inpadoc_event_classes"},
        {"key":"apm_inventors","calc_targets":[]}
    ],
    "cross": [
        {"key":"apm_inventors"},
        {"key":"app_year"},
        {"key":"themes"}
    ],
    "weights": {
    },
    "options": {
        "disable_stop_word": true
    },
    "view": {
        "type": "graph",
        "style": "detailed",
        "chart": "pie",
        "group_key": "apm_inventors",
        "swap_axis": true,
        "label_detail": "1",
        "color_set": [""],
        "font": 12,
        "columns": ["title","abstract","snippet_claims","snippet_description","app_doc_id","app_date","kinds","series_code","pub_id","pub_date","exam_id","exam_date","wo_pub_id","wo_pub_date","wo_app_id","aem_appeal_numbers","ipcs","fis","themes","fterms","srm_freewords","cpcs","uspcs","locarnos","us_design_codes","design_classifications","d_terms","part_design","priority_countries","retroacted_date","apm_req_exam_date","apm_accelerated_exam","apm_rejection_last_date","apm_accelerated_exam_date","app_claim_count","grant_claim_count","cited_count","cited_foreign_count","cited_total_count","citing_count","cited_patent_dates","cited_documents","lack_of_novelties","industrial_laws","parent_types","aem_kind_of_appeals","aem_kind_of_disposition_in_appeals","title_ja","abstract_ja","snippet_jpo_summary","snippet_claims_jpo_ja","snippet_description_jpo_ja"]
    },
    "work_group_id": 7129
}
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