PFスコア/出願件数/ユーザー評価値などを軸にした散布図（分布図）の作成方法
散布図（分布図）は、横軸と縦軸の2つの項目で量を計測して、その分布をプロットしたグラフです。
プロットされた分布から2つの変数に相関関係があるかどうかを確認できます。
散布図の作成方法
検索実行後、マップ機能のグラフ種類の選択で、「散布図」を選択すると表示されます。
散布図で表示できる集計条件（マップで表示する項目）は、「出願人」「発明者」「特許分類(IPC/CPC/FI/Fターム/etc...)」「技術分類」などです。
散布図のX軸・Y軸の項目を変更する
散布図のX軸・Y軸のデフォルト設定は、「スコア総計」と「スコア最大値」です。
マップ右上の「集計条件を設定」から、表示する項目を変更することができます。
「集計条件を設定」から項目を設定する
「集計条件を設定」画面の各軸(X/Y)で、表示項目を以下から選択できます。
・総計/最大値/最小値/平均
作成例動画01）特定の技術領域で、Ｘ軸「出願件数」とＹ軸「PFスコア」で出願人の上位20社をプロットする
作成例動画02）特定の出願人において、X軸「PFスコア：他社影響度」とY軸「PFスコア：自社重要度」で、技術領域（テーマコード）をプロットする
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マップの基本操作方法は、こちらをご参照ください。 用途別のパテントマップ作成方法については、下記リンクをご参照ください。 ・競合企業の可視化・分析方法 ・技術動向の可視化・分析方法 グラフ操作画面の操作方法等については、こちらをご参照ください。