検索項目コード

検索項目コード

検索対象によって、検索可能な種別が異なります。

  1. 長文テキスト系: 部分一致/近傍
  2. 数値/日付:不等号、 範囲
  3. その他の属性情報: 完全一致/前方一致/あいまい一致

"出願人/譲受人/権利者(出願/付与/最新)"など横断でのコードは部分一致での検索が可能ですが、"出願人 (JP:最新)"などは完全一致または前方一致での検索が必要となっているので注意して下さい。
 コード(省略)は、コマンド検索でのみ利用できます。

説明コード(省略コード検索種別
名称/要約/請求の範囲/明細書/審査官フリーワードKWkeywords部分一致/近傍
名称/要約/請求の範囲KWCkeyword_claims部分一致/近傍
名称/要約/請求の範囲/明細書KWDkeyword_desc部分一致/近傍
セマンティック検索(名称/要約/請求の範囲/明細書/審査官フリーワード)SEsemanticsemantic
セマンティック検索(名称/要約/請求の範囲)SECsemantic_claimssemantic
セマンティック検索(請求の範囲)SEACsemantic_all_claimssemantic
セマンティック検索(請求の範囲トップクレーム)SETCsemantic_top_claimsemantic
セマンティック検索(名称)SETIsemantic_titlesemantic
セマンティック検索(要約)SEABsemantic_abstractsemantic
セマンティック検索(JP技術分野/背景技術/課題/効果)SETBPEsemantic_tbpesemantic
セマンティック検索(JP技術分野/背景技術/課題/効果/解決手段)SETBPESsemantic_tbpessemantic
セマンティック検索(JP技術分野/背景技術/課題/効果/利用可能性)SETBPEAsemantic_tbpeasemantic
セマンティック検索(JP課題)SEPBsemantic_problemsemantic
セマンティック検索(JP効果)SEEFsemantic_effectsemantic
セマンティック検索(JP技術分野)SETFsemantic_technical_fieldsemantic
セマンティック検索(JP背景技術)SEBGsemantic_backgroundsemantic
セマンティック検索(JP課題を解決するための手段)SESLsemantic_solutionsemantic
セマンティック検索(JP産業上の利用可能性)SEACsemantic_applicabilitysemantic
セマンティック検索(引用関係)SETsemantic_citationsemantic
セマンティック検索[複数番号x母集団](実験機能)SEMsemantic_multisemantic
セマンティック検索(JP/PCTJP/US/EP/CN/KR/WO日本語横断)SECJsemantic_cross_jasemantic
セマンティックスコア(名称/要約/請求の範囲/明細書/審査官フリーワード)SESsemantic_scoresemantic
セマンティックスコア(名称/要約/請求の範囲)SESCsemantic_score_claimssemantic
セマンティックスコア(請求の範囲)SESACsemantic_score_all_claimssemantic
セマンティックスコア(請求の範囲トップクレーム)SESTCsemantic_score_top_claimsemantic
セマンティックスコア(名称)SESTIsemantic_score_titlesemantic
セマンティックスコア(要約)SESABsemantic_score_abstractsemantic
セマンティックスコア(JP技術分野/背景技術/課題/効果)SESTBPEsemantic_score_tbpesemantic
セマンティックスコア(JP技術分野/背景技術/課題/効果/解決手段)SESTBPESsemantic_score_tbpessemantic
セマンティックスコア(JP技術分野/背景技術/課題/効果/利用可能性)SESTBPEAsemantic_score_tbpeasemantic
セマンティックスコア(JP課題)SESPBsemantic_score_problemsemantic
セマンティックスコア(JP効果)SESEFsemantic_score_effectsemantic
セマンティックスコア(JP技術分野)SESTFsemantic_score_technical_fieldsemantic
セマンティックスコア(JP背景技術)SESBGsemantic_score_backgroundsemantic
セマンティックスコア(JP課題を解決するための手段)SESSLsemantic_score_solutionsemantic
セマンティックスコア(JP産業上の利用可能性)SESACsemantic_score_applicabilitysemantic
セマンティックスコア(引用関係)SESTsemantic_score_citationsemantic
セマンティックスコア(JP/PCTJP/US/EP/CN/KR/WO日本語横断)SESCJsemantic_score_cross_jasemantic
名称TItitle部分一致/近傍
要約ABabstract部分一致/近傍
請求の範囲(出願/付与)CLclaims部分一致/近傍
請求の範囲トップクレーム(付与優先)TCLtop_claim部分一致/近傍
請求の範囲独立項(付与優先)[JP]ICLindependent_claims部分一致/近傍
請求の範囲(出願)ACLapp_claims部分一致/近傍
請求の範囲(付与)GCLgrant_claims部分一致/近傍
請求の範囲(付与優先)GOACLgrant_or_app_claims部分一致/近傍
明細書DEdescription部分一致/近傍
課題(JP)PBproblem部分一致/近傍
効果(JP)EFeffect部分一致/近傍
技術分野(JP)TFtechnical_field部分一致/近傍
背景技術(JP)BGbackground部分一致/近傍
課題を解決するための手段(JP)SLsolution部分一致/近傍
産業上の利用可能性(JP)ACapplicability部分一致/近傍
日本語横断検索[JP|PCTJP|CN|KR全文][US|EP|WO名称|要約|第1クレーム|抄録]CRJKWDcross_ja部分一致/近傍
名称[US|EP|WO](npat機械翻訳)NPTItitle_npat_ja部分一致/近傍
要約[US|EP|WO](npat機械翻訳)NPABabstract_npat_ja部分一致/近傍
請求の範囲トップクレーム(付与優先)[US|EP|WO](npat機械翻訳)NPTCLtop_claim_npat_ja部分一致/近傍
請求の範囲トップクレーム(出願)[US|EP|WO](npat機械翻訳)NPTACLtop_app_claim_npat_ja部分一致/近傍
請求の範囲トップクレーム(付与)[US|EP|WO](npat機械翻訳)NPTGCLtop_grant_claim_npat_ja部分一致/近傍
和文抄録名称[US|EP](JPO)JATIjpo_summary_title部分一致/近傍
和文抄録[US|EP](JPO)JASMjpo_summary部分一致/近傍
名称[CN|KR](JPO機械翻訳)JAMTTItitle_jpo_ja部分一致/近傍
要約[CN|KR](JPO機械翻訳)JAMTABabstract_jpo_ja部分一致/近傍
請求の範囲トップクレーム[CN|KR](JPO機械翻訳)JAMTTCLtop_claim_jpo_ja部分一致/近傍
請求の範囲(出願)[CN|KR](JPO機械翻訳)JAMTACLapp_claims_jpo_ja部分一致/近傍
請求の範囲(付与)[CN|KR](JPO機械翻訳)JAMTGCLgrant_claims_jpo_ja部分一致/近傍
明細書[CN|KR](JPO機械翻訳)JAMTDEdescription_jpo_ja部分一致/近傍
出願人/譲受人/権利者(出願/付与/最新)APPapplicants部分一致/近傍
出願人/譲受人/権利者住所(出願/付与/最新)APPADapplicants_addr部分一致/近傍
代理人/特許事務所(出願/付与/最新)ATTattorneys部分一致/近傍
発明者(出願/付与/最新)INVinventors部分一致/近傍
発明者住所(出願/付与/最新)INVADinventors_addr部分一致/近傍
出願国CNTcountry完全一致/前方一致/あいまい
公開種別(KindCode)KNDkinds完全一致/前方一致/あいまい
出願番号(EPODOC)ANapp_id完全一致/前方一致/あいまい
出願番号ADNapp_doc_id完全一致/前方一致/あいまい
出願番号(オリジナル)ANOapp_id_o完全一致/前方一致/あいまい
出願日ADapp_date完全一致/範囲/不等号
出願年AYapp_year完全一致/前方一致/あいまい
出願月AMapp_month完全一致
シリーズコード(US)SCseries_code完全一致/前方一致/あいまい
公開番号PNpub_id完全一致/前方一致/あいまい
公開番号(オリジナル)PNOpub_id_o完全一致/前方一致/あいまい
公開日PDpub_date完全一致/範囲/不等号
公開年PYpub_year完全一致/前方一致/あいまい
公開月PMpub_month完全一致
登録番号ENexam_id完全一致/前方一致/あいまい
登録番号(オリジナル)ENOexam_id_o完全一致/前方一致/あいまい
登録発行日EDexam_date完全一致/範囲/不等号
登録発行年EYexam_year完全一致/前方一致/あいまい
登報発行月EMexam_month完全一致
登録日RDreg_date完全一致/範囲/不等号
登録年RYreg_year完全一致/前方一致/あいまい
登録月RMreg_month完全一致
PCT公開番号WPNwo_pub_id完全一致/前方一致/あいまい
PCT公開日WPDwo_pub_date完全一致/範囲/不等号
PCT出願番号WANwo_app_id完全一致/前方一致/あいまい
PCT翻訳文提出日WTDwo_trans_date完全一致/範囲/不等号
IPCセクションIPCSECipc_sections完全一致/前方一致/あいまい
IPCクラスIPCCLSipc_classes完全一致/前方一致/あいまい
IPCサブクラスIPCSUBCLSipc_subclasses完全一致/前方一致/あいまい
IPCメイングループIPCMGipc_maingroups完全一致/前方一致/あいまい
IPCIPCipcs完全一致/前方一致/あいまい
筆頭IPCIPCMAINipc_main完全一致/前方一致/あいまい
最新IPC8セクションIPC8SECipc8_sections完全一致/前方一致/あいまい
最新IPC8クラスIPC8CLSipc8_classes完全一致/前方一致/あいまい
最新IPC8サブクラスIPC8SUBCLSipc8_subclasses完全一致/前方一致/あいまい
最新IPC8メイングループIPC8MGipc8_maingroups完全一致/前方一致/あいまい
最新IPC8IPC8ipc8s完全一致/前方一致/あいまい
筆頭最新IPC8IPC8MAINipc8_main完全一致/前方一致/あいまい
公開IPCセクションPIPCSECpub_ipc_sections完全一致/前方一致/あいまい
公開IPCクラスPIPCCLSpub_ipc_classes完全一致/前方一致/あいまい
公開IPCサブクラスPIPCSUBCLSpub_ipc_subclasses完全一致/前方一致/あいまい
公開IPCメイングループPIPCMGpub_ipc_maingroups完全一致/前方一致/あいまい
公開IPCPIPCpub_ipcs完全一致/前方一致/あいまい
筆頭公開IPCPIPCMAINpub_ipc_main完全一致/前方一致/あいまい
登録IPCセクションEIPCSECexam_ipc_sections完全一致/前方一致/あいまい
登録IPCクラスEIPCCLSexam_ipc_classes完全一致/前方一致/あいまい
登録IPCサブクラスEIPCSUBCLSexam_ipc_subclasses完全一致/前方一致/あいまい
登録IPCメイングループEIPCMGexam_ipc_maingroups完全一致/前方一致/あいまい
登録IPCEIPCexam_ipcs完全一致/前方一致/あいまい
筆頭登録IPCEIPCMAINexam_ipc_main完全一致/前方一致/あいまい
JST/RISTEX社会問題キーワードJSTPBsocial_problems完全一致/前方一致/あいまい
JST/RISTEX社会問題キーワード中項目JSTPBSCsocial_problems_s_classes完全一致/前方一致/あいまい
JST/RISTEX社会問題キーワード大項目JSTPBLCsocial_problems_l_classes完全一致/前方一致/あいまい
JST/RISTEX社会問題キーワード(要約)JSTPBAsocial_problems_in_ab完全一致/前方一致/あいまい
JST/RISTEX社会問題キーワード(課題)JSTPBPsocial_problems_in_pb完全一致/前方一致/あいまい
NISTEP技術分類NSTECnistep_classes完全一致/前方一致/あいまい
WIPO技術分類WOTECwipo_techs完全一致/前方一致/あいまい
JPO審査部技術分類JPOSECjpo_sections完全一致/前方一致/あいまい
JPO審査部技術単位JPOCLSjpo_l_classes完全一致/前方一致/あいまい
JPO審査部技術分野JPOTECjpo_techs完全一致/前方一致/あいまい
CPCCPCcpcs完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(タイトル/要約/請求の範囲/明細書/審査官キーワード)FWword_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(名称/要約/請求の範囲)CWclaims_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(請求の範囲)ACWall_claims_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(名称)TIWtitle_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(要約)ABWabstract_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP技術分野/背景技術/課題/効果)TBPEWtbpe_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP技術分野/背景技術/課題/効果/解決手段)TBPESWtbpes_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP技術分野/背景技術/課題/効果/利用可能性)TBPEAWtbpea_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(請求の範囲トップクレーム)TCWtop_claim_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP課題)PBWproblem_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP効果)EFWeffect_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP技術分野)TFWtechnical_field_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP背景技術)BGWbackground_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP課題を解決するための手段)SLWsolution_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP産業上の利用可能性)APWapplicability_weights完全一致/前方一致/あいまい
特徴キーワード(JP/PCTJP/US/EP/CN/KR/WO日本語横断)CJWcross_ja_weights完全一致/前方一致/あいまい
優先権主張番号PRNpriority_claims完全一致/前方一致/あいまい
優先国PRCNTpriority_countries完全一致/前方一致/あいまい
優先日PRDpriority_dates完全一致/範囲/不等号
原出願番号PANparents完全一致/前方一致/あいまい
原出願種別PATparent_types完全一致/前方一致/あいまい
原出願日PADparent_dates完全一致/範囲/不等号
原出願数PACparents_count完全一致/範囲/不等号
遡及日RETDretroacted_date完全一致/範囲/不等号
請求項数(付与|出願)CLCclaim_count完全一致/範囲/不等号
請求項数(付与)GRCLCgrant_claim_count完全一致/範囲/不等号
請求項(出願)文字数APCLCHapp_claims_size完全一致/範囲/不等号
請求項(付与)文字数GRCLCHgrant_claims_size完全一致/範囲/不等号
請求項トップクレーム文字数TCLCHtop_claim_size完全一致/範囲/不等号
明細書文字数DECLCHdescription_size完全一致/範囲/不等号
被引用件数(JP・US)CITINGCciting_count完全一致/範囲/不等号
被引用件数(自己引用除く)(JP・US)CITINGOCciting_other_count完全一致/範囲/不等号
引用件数CITEDTCcited_total_count完全一致/範囲/不等号
引用件数(国内)CITEDCcited_count完全一致/範囲/不等号
引用件数(自己引用除く)(国内)CITEDOCcited_other_count完全一致/範囲/不等号
引用件数(国外)CITEDFCcited_foreign_count完全一致/範囲/不等号
被引用特許(JP・US)CITINGANciting_patents_app完全一致/前方一致/あいまい
被引用特許(自己引用除く)(JP・US)CITINGOANciting_other_patents_app完全一致/前方一致/あいまい
引用特許CITEDPNcited_patents完全一致/前方一致/あいまい
引用特許(JP・US出願番号)CITEDANcited_patents_app完全一致/前方一致/あいまい
引用特許(自己引用除く)(JP・US出願番号)CITEDOANcited_other_patents_app完全一致/前方一致/あいまい
引用特許審査官以外CITEDOTPNcited_patents_by_others完全一致/前方一致/あいまい
引用特許種別CITEDTPcited_patent_types完全一致/前方一致/あいまい
引用特許起案日CITEDDcited_patent_dates完全一致/範囲/不等号
引用特許(国外)CITEDFPNcited_foreign_patents完全一致/前方一致/あいまい
引用特許国(国外)CITEDPCNTcited_foreign_patent_countries完全一致/前方一致/あいまい
引用特許審査官以外(国外)CITEDFOTPNcited_foreign_patents_by_others完全一致/前方一致/あいまい
引用文献(非特許)CITEDDOCcited_documents部分一致/近傍
引用文献審査官以外(非特許)CITEDDOCOTcited_documents_by_others部分一致/近傍
引用カテゴリー(JP)CITEFCAcitation_forward_categories完全一致/前方一致/あいまい
引用日(JP)CITEFDcitation_forward_dates完全一致/範囲/不等号
被引用カテゴリー(JP)CITEBCAcitation_back_categories完全一致/前方一致/あいまい
被引用日(JP)CITEBDcitation_back_dates完全一致/範囲/不等号
新規性喪失の例外LONlack_of_novelties部分一致/近傍
保存検索条件IDSSsearch_settings保存検索条件ID
行番号(コマンド検索の場合のみ)Lline行番号
名前KEY_key完全一致/前方一致/あいまい
FIサブクラスFISUBCLSfi_subclasses完全一致/前方一致/あいまい
FIメイングループFIMGfi_maingroups完全一致/前方一致/あいまい
FIFIfis完全一致/前方一致/あいまい
FIファセットFIFfi_facets完全一致/前方一致/あいまい
テーマコードTHthemes完全一致/前方一致/あいまい
FタームFTfterms完全一致/前方一致/あいまい
審査官フリーワード(部分一致)FRfreewords部分一致/近傍
審査官フリーワードEFRsrm_freewords完全一致/前方一致/あいまい
意匠分類DCdesign_classifications完全一致/前方一致/あいまい
画像意匠分類IDCimage_design_classifications完全一致/前方一致/あいまい
DタームDTd_terms完全一致/前方一致/あいまい
商標(表示用)TNMname_of_trademark_info部分一致/近傍
標準文字TSCstandard_character部分一致/近傍
称呼TAPLappellation部分一致/近傍
商品及び役務の区分TDCdesignated_classes完全一致/前方一致/あいまい
指定商品又は指定役務TDGdesignated_goods_and_services完全一致/前方一致/あいまい
国内優先権主張番号(JP)PRNJPpriority_claims_jp完全一致/前方一致/あいまい
原出願番号(JP)PANJPparents_jp完全一致/前方一致/あいまい
関連意匠REDErelated_designs完全一致/前方一致/あいまい
本意匠PRDEprincipal_designs完全一致/前方一致/あいまい
本意匠に係る他の関連意匠の意匠登録番号CODEconserned_designs完全一致/前方一致/あいまい
部分意匠PADEpart_design完全一致/範囲/不等号
請求項数(出願)(JP)APCLCapp_claim_count完全一致/範囲/不等号
リーガルステータス(JP)JPLSTjp_legal_status完全一致/前方一致/あいまい
リーガルステータス(INPADOC)INPLSTinpadoc_legal_status完全一致/前方一致/あいまい
審査請求数(JP)AMREQapm_req_exam完全一致/範囲/不等号
審査請求日(JP)AMREQDapm_req_exam_date完全一致/範囲/不等号
早期審査(JP)AMACCapm_accelerated_exam完全一致/前方一致/あいまい
早期審査提出日(JP)AMACCDapm_accelerated_exam_date完全一致/範囲/不等号
審査記録最終処分コード(JP)AMFEapm_detail_app_final_exam完全一致/前方一致/あいまい
審査記録最終処分日(JP)AMEDapm_detail_app_exam_date完全一致/範囲/不等号
審査記録査定種別コード(JP)AMFDapm_detail_app_final_decision完全一致/前方一致/あいまい
審査記録査定日(JP)AMDDapm_detail_app_decision_date完全一致/範囲/不等号
審査記録中間コード(JP)AMCapm_examine_codes完全一致/前方一致/あいまい
情報提供受付日(JP)AMODapm_offer_dates完全一致/範囲/不等号
情報提供最終受付日(JP)AMOLDapm_offer_last_date完全一致/範囲/不等号
拒絶理由条文コード(JP)AMRCapm_rejection_codes完全一致/前方一致/あいまい
拒絶理由条文コード(JP2021改訂)AMRCjp_rejection_codes完全一致/前方一致/あいまい
拒絶理由通知書発送日(JP)AMRDapm_rejection_dates完全一致/範囲/不等号
拒絶理由通知書最終発送日(JP)AMRLDapm_rejection_last_date完全一致/範囲/不等号
権利抹消識別(JP)RMRCrgm_detail_reg_cancel完全一致/前方一致/あいまい
権利抹消識別分類(JP)RMRCCrgm_detail_reg_cancel_class完全一致/前方一致/あいまい
登録記録査定日(JP)RMFDrgm_dec_date_final_date完全一致/前方一致/あいまい
登録記録審決日(JP)RMDDrgm_dec_date_trial_date完全一致/範囲/不等号
存続期間満了日(JP)RMFDrgm_detail_reg_final_date完全一致/範囲/不等号
権利消滅日(JP)RMTDrgm_detail_reg_term_end_date完全一致/範囲/不等号
次期年金納付期限日(JP)RMNDrgm_next_date完全一致/範囲/不等号
最終納付年分(JP)RMTYrgm_term_year完全一致/範囲/不等号
登録後最大存続年数(JP)RMTLrgm_max_life_period完全一致/範囲/不等号
概算最大年金納付費用(JP)RMMCrgm_max_maintain_cost_estimate完全一致/範囲/不等号
概算年金納付済費用(JP)RMPCrgm_paid_maintain_cost_estimate完全一致/範囲/不等号
登録記録中間コード(JP)RMCrgm_regist_codes完全一致/前方一致/あいまい
登録記録特許料納付コード(JP)RMPYCrgm_payment_codes完全一致/前方一致/あいまい
特許料納付日(JP)RMPYDrgm_payment_dates完全一致/範囲/不等号
最終特許料納付日(JP)RMPYLDrgm_payment_last_date完全一致/範囲/不等号
権利者/出願人横断原語CRAPPcross_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人横断英語CREAPPcross_en_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人(JP名寄せ)STAPPstd_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人都道府県(JP名寄せ)STAPPPRFstd_applicants_pref_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人地域(JP名寄せ)STAPPPRGstd_applicants_region完全一致/前方一致/あいまい
出願人上場市場(JP名寄せ)STAPPSTMstd_applicants_stock_market完全一致/前方一致/あいまい
出願人証券コード(JP名寄せ)STAPPSECstd_applicants_sec_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人証券コード協会業種大分類(JP名寄せ)STAPPLCLSstd_applicants_l_class完全一致/前方一致/あいまい
出願人証券コード協会業種小分類(JP名寄せ)STAPPSCLSstd_applicants_s_class完全一致/前方一致/あいまい
出願人企業規模(JP名寄せ)STAPPCSLstd_applicants_comp_size_law完全一致/前方一致/あいまい
出願人資本金階級(JP名寄せ)STAPPCSCstd_applicants_comp_size_cap完全一致/前方一致/あいまい
出願人従業員数階級(JP名寄せ)STAPPCSEstd_applicants_comp_size_emp完全一致/前方一致/あいまい
出願人日本標準産業分類コード(JP名寄せ)STAPPJSCstd_applicants_jsic_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人日本標準産業分類(大分類)(JP名寄せ)STAPPJCLstd_applicants_jsic_l完全一致/前方一致/あいまい
出願人日本標準産業分類(中分類)(JP名寄せ)STAPPJCMstd_applicants_jsic_m完全一致/前方一致/あいまい
出願人日本標準産業分類(小分類)(JP名寄せ)STAPPJCSstd_applicants_jsic_s完全一致/前方一致/あいまい
出願人EDINETコード(JP名寄せ)STAPPEDCstd_applicants_edinet_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人法人番号(JP名寄せ)STAPPCPNstd_applicants_corp_num完全一致/前方一致/あいまい
出願人学校種別(JP名寄せ)STAPPACTstd_applicants_academic_type完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号STAPCstd_applicant_codes完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号都道府県STAPCPRFstd_applicant_codes_pref_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号地域STAPCPRGstd_applicant_codes_region完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号上場市場STAPCSTMstd_applicant_codes_stock_market完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号証券コードSTAPCSECstd_applicant_codes_sec_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号証券コード協会業種大分類STAPCLCLSstd_applicant_codes_l_class完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号証券コード協会業種小分類STAPCSCLSstd_applicant_codes_s_class完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号企業規模STAPCCSLstd_applicant_codes_comp_size_law完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号資本金階級STAPCCSCstd_applicant_codes_comp_size_cap完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号従業員数階級STAPCCSEstd_applicant_codes_comp_size_emp完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号日本標準産業分類コードSTAPCJSCstd_applicant_codes_jsic_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号日本標準産業分類(大分類)STAPCJCLstd_applicant_codes_jsic_l完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号日本標準産業分類(中分類)STAPCJCMstd_applicant_codes_jsic_m完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号日本標準産業分類(小分類)STAPCJCSstd_applicant_codes_jsic_s完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号EDINETコードSTAPCEDCstd_applicant_codes_edinet_code完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号法人番号STAPCCPNstd_applicant_codes_corp_num完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号学校種別STAPCACTstd_applicant_codes_academic_type完全一致/前方一致/あいまい
出願人(JP最新)AMAPPapm_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号(JP最新)AMAPPCDapm_applicant_codes完全一致/前方一致/あいまい
出願人国(JP最新)AMAPPCNTapm_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人都道府県(JP最新)AMAPPPRFapm_applicant_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(JP最新)AMAPPCapm_applicants_count完全一致/範囲/不等号
代理人(JP最新)AMATTapm_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
特許事務所(JP最新)AMATTOapm_attorney_offices完全一致/前方一致/あいまい
発明者横断CRINVcross_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者(JP最新)AMINVapm_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者数(JP最新)AMINVCapm_inventors_count完全一致/範囲/不等号
発明者国(JP最新)AMINVCNTapm_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
発明者都道府県(JP最新)AMINVPRFapm_inventor_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
出願人(JP出願)APAPPapp_applicants完全一致/前方一致/あいまい
付与前異議決定の種別(旧制度)(JP)AMOPKNDapm_opposition_kinds完全一致/前方一致/あいまい
付与前異議申立人(旧制度)(JP)AMOPapm_opponents完全一致/前方一致/あいまい
付与前異議申立代理人(旧制度)(JP)AMOPATTapm_opposition_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号(JP出願)APAPPCDapp_applicant_codes完全一致/前方一致/あいまい
出願人国(JP出願)APAPPCNTapp_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人都道府県(JP出願)APAPPPRFapp_applicant_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(JP出願)APAPPCapp_applicants_count完全一致/範囲/不等号
代理人(JP出願)APATTapp_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
特許事務所(JP出願)APATTOapp_attorney_offices完全一致/前方一致/あいまい
発明者(JP出願)APINVapp_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者国(JP出願)APINVADapp_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
発明者都道府県(JP出願)APINVPRFapp_inventor_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
出願人(JP付与)GRAPPgrant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人識別番号(JP付与)GRAPPCDgrant_applicant_codes完全一致/前方一致/あいまい
出願人国(JP付与)GRAPPCNTgrant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人都道府県(JP付与)GRAPPPRFgrant_applicant_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(JP付与)GRAPPCgrant_applicants_count完全一致/範囲/不等号
代理人(JP付与)GRATTgrant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
特許事務所(JP付与)GRATTOgrant_attorney_offices完全一致/前方一致/あいまい
発明者(JP付与)GRINVgrant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者国(JP付与)GRINVCgrant_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
発明者都道府県(JP付与)GRINVPRFgrant_inventor_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
審査官(JP付与)GREXgrant_examiners完全一致/前方一致/あいまい
審査官種別(JP付与)GREXKgrant_examiner_kinds完全一致/前方一致/あいまい
権利者(JP最新)RMHrgm_holders完全一致/前方一致/あいまい
権利者識別番号(JP最新)RMHCDrgm_holder_codes完全一致/前方一致/あいまい
権利者国(JP最新)RMHCNTrgm_holder_countries完全一致/前方一致/あいまい
権利者都道府県(JP最新)RMHPRFrgm_holder_prefectures完全一致/前方一致/あいまい
権利者数(JP最新)RMHCrgm_holders_count完全一致/範囲/不等号
審判記録中間コード(JP)AECaem_appeal_codes完全一致/前方一致/あいまい
審判記録拒絶理由条文コード(JP)AERCaem_rejection_codes完全一致/前方一致/あいまい
審判記録拒絶理由通知書発送日(JP)AERDaem_rejection_dates完全一致/範囲/不等号
審判記録拒絶理由通知書最終発送日(JP)AERLDaem_rejection_last_date完全一致/範囲/不等号
審判記録無効理由条文コード(JP)AEICaem_invalidation_codes完全一致/前方一致/あいまい
審判記録無効理由通知書発送日(JP)AEIDaem_invalidation_dates完全一致/範囲/不等号
審判記録無効理由通知書最終発送日(JP)AEILDaem_invalidation_last_date完全一致/範囲/不等号
審判番号(JP)AENaem_appeal_numbers完全一致/前方一致/あいまい
審級等の種別(JP)AEIaem_kind_of_instances完全一致/前方一致/あいまい
審判種別(JP)AEAaem_kind_of_appeals完全一致/前方一致/あいまい
審判最終処分種別(JP)AEDIaem_kind_of_disposition_in_appeals完全一致/前方一致/あいまい
審判最終処分日(JP)AEDIDaem_kind_of_disposition_in_appeals_dates完全一致/範囲/不等号
審判結論コード(JP)AECSaem_appeal_conclusions完全一致/前方一致/あいまい
審判請求人(JP)AELaem_licensees完全一致/前方一致/あいまい
審判請求代理人(JP)AELATTaem_licensee_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
審判被請求人(JP)AEDEaem_defendants完全一致/前方一致/あいまい
審判被請求代理人(JP)AEDEATTaem_defendant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
審判異議申立人(JP)AEOPaem_opponents完全一致/前方一致/あいまい
審判異議申立代理人(JP)AEOPATTaem_opposition_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
名称(EN)(PatentAbstractofJapan)JENTIen_title部分一致/近傍
要約(EN)(PatentAbstractofJapan)JENABen_abstract部分一致/近傍
出願人(EN)(PatentAbstractofJapan)JENAPPen_applicants完全一致/前方一致/あいまい
発明者(EN)(PatentAbstractofJapan)JENINVen_inventors完全一致/前方一致/あいまい
国等の委託研究の成果に係る記載事項INDLindustrial_laws部分一致/近傍
USPCクラスUSPCCLSuspc_classes完全一致/前方一致/あいまい
USPCUSPCuspcs完全一致/前方一致/あいまい
USPCクラス(意匠)USDCCLSus_design_code_classes完全一致/前方一致/あいまい
USPC(意匠)USDCus_design_codes完全一致/前方一致/あいまい
ロカルノ分類LOClocarnos完全一致/前方一致/あいまい
譲受人(US付与)USGRASSus_grant_assignees完全一致/前方一致/あいまい
譲受人数(US付与)USGRASSCus_grant_assignees_count完全一致/範囲/不等号
譲受人国(US付与)USGRASSCNTus_grant_assignee_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人(US付与)USGRAPPus_grant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(US付与)USGRAPPCus_grant_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(US付与)USGRAPPCNTus_grant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(US付与)USGRATTus_grant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(US付与)USGRINVus_grant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
譲受人(US出願)USAPASSus_app_assignees完全一致/前方一致/あいまい
譲受人数(US出願)USAPASSCus_app_assignees_count完全一致/範囲/不等号
譲受人国(US出願)USAPASSCNTus_app_assignee_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人(US出願)USAPAPPus_app_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(US出願)USAPAPPCus_app_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(US出願)USAPAPPCNTus_app_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(US出願)USAPATTus_app_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(US出願)USAPINVus_app_inventors完全一致/前方一致/あいまい
譲受人(EP)EPPRPep_proprietors完全一致/前方一致/あいまい
譲受人数(EP)EPPRPCep_proprietors_count完全一致/範囲/不等号
譲受人国(EP)EPPRPCNTep_proprietor_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人(EP付与)EPGRAPPep_grant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(EP付与)EPGRAPPCep_grant_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(EP付与)EPGRAPPCNTep_grant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(EP付与)EPGRATTep_grant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(EP付与)EPGRINVep_grant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
出願人(EP出願)EPAPAPPep_app_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(EP出願)EPAPAPPCep_app_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(EP出願)EPAPAPPCNTep_app_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(EP出願)EPAPATTep_app_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(EP出願)EPAPINVep_app_inventors完全一致/前方一致/あいまい
出願人(WO)WOAPPwo_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人国(WO)WOAPPCNTwo_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人英語(WO)WOAPPENwo_en_applicants完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(WO)WOATTwo_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(WO)WOINVwo_inventors完全一致/前方一致/あいまい
出願人(CN出願)CNAPAPPcn_app_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(CN出願)CNAPAPPCcn_app_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(CN出願)CNAPAPPCNTcn_app_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(CN出願)CNAPATTcn_app_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(CN出願)CNAPINVcn_app_inventors完全一致/前方一致/あいまい
譲受人(CN付与)CNGRASScn_grant_assignees完全一致/前方一致/あいまい
譲受人数(CN付与)CNGRASSCcn_grant_assignees_count完全一致/範囲/不等号
譲受人国(CN付与)CNGRASSCNTcn_grant_assignee_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人(CN付与)CNGRAPPcn_grant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(CN付与)CNGRAPPCcn_grant_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(CN付与)CNGRAPPCNTcn_grant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(CN付与)CNGRATTcn_grant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(CN付与)CNGRINVcn_grant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
出願人(KR出願)KRAPAPPkr_app_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(KR出願)KRAPAPPCkr_app_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(KR出願)KRAPAPPCNTkr_app_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(KR出願)KRAPATTkr_app_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(KR出願)KAPINVkr_app_inventors完全一致/前方一致/あいまい
譲受人(KR付与)KRGRASSkr_grant_assignees完全一致/前方一致/あいまい
譲受人数(KR付与)KRGRASSCkr_grant_assignees_count完全一致/範囲/不等号
譲受人国(KR付与)KRGRASSCNTkr_grant_assignee_countries完全一致/前方一致/あいまい
出願人(KR付与)KRGRAPPkr_grant_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人数(KR付与)KRGRAPPCkr_grant_applicants_count完全一致/範囲/不等号
出願人国(KR付与)KRGRAPPCNTkr_grant_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
代理人/事務所(KR付与)KRGRATTkr_grant_attorneys完全一致/前方一致/あいまい
発明者(KR付与)KRGRINVkr_grant_inventors完全一致/前方一致/あいまい
出願人(DOCDB)DCAPPdocdb_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人(DOCDBオリジナル)DCOAPPdocdbo_applicants完全一致/前方一致/あいまい
出願人国(DOCDB)DCAPPCNTdocdb_applicant_countries完全一致/前方一致/あいまい
発明者(DOCDB)DCINVdocdb_inventors完全一致/前方一致/あいまい
発明者国(DOCDB)DCINVCNTdocdb_inventor_countries完全一致/前方一致/あいまい
優先権主張番号(DOCDB)DCPRNdocdb_priority_claims完全一致/前方一致/あいまい
優先国(DOCDB)DCPRCNTdocdb_priority_countries完全一致/前方一致/あいまい
優先日(DOCDB)DCPRDdocdb_priority_dates完全一致/範囲/不等号
パテントファミリー出願番号DCFMfamilies完全一致/前方一致/あいまい
パテントファミリー出願国DCFMCNTfamily_countries完全一致/前方一致/あいまい
パテントファミリー出願国数DCFMCfamily_count完全一致/範囲/不等号
公開番号(DOCDB)DCPNSdocdb_pub_ids完全一致/前方一致/あいまい
公開番号(DOCDBオリジナル)DCPNOSdocdb_pub_idos完全一致/前方一致/あいまい
公開番号(DOCDBDOCDB形式)DCPNDSdocdb_pub_idds完全一致/前方一致/あいまい
公開種別(DOCDB)DCKNDdocdb_kinds完全一致/前方一致/あいまい
公開日(DOCDB)DCPDSdocdb_pub_dates完全一致/範囲/不等号
引用特許(DOCDB)DCCITEDANdocdb_cited_patents完全一致/前方一致/あいまい
引用特許種別(DOCDB)DCCITEDPHdocdb_cited_patent_phases完全一致/前方一致/あいまい
引用特許起案日(DOCDB)DCCITEDDdocdb_cited_patent_dates完全一致/範囲/不等号
引用特許審査官以外(DOCDB)DCCITEDOTANdocdb_cited_patents_by_others完全一致/前方一致/あいまい
引用特許種別審査官以外(DOCDB)DCCITEDOTPHdocdb_cited_patent_phases_by_others完全一致/前方一致/あいまい
引用特許起案日審査官以外(DOCDB)DCCITEDOTDdocdb_cited_patent_dates_by_others完全一致/範囲/不等号
被引用特許(DOCDB)DCCCITINGANdocdb_citing_patents完全一致/前方一致/あいまい
被引用件数(DOCDB)DCCITINGCdocdb_citing_count完全一致/範囲/不等号
引用件数(DOCDB)DCCITEDCdocdb_cited_count完全一致/範囲/不等号
リーガルイベントコード(INPADOC)INPDCDinpadoc_event_codes完全一致/前方一致/あいまい
リーガルイベント分類(INPADOC)INPDCLinpadoc_event_classes完全一致/前方一致/あいまい
リーガルイベント日(INPADOC)INPDDinpadoc_event_dates完全一致/範囲/不等号
権利者履歴(INPADOC)INPDOWinpadoc_owners完全一致/前方一致/あいまい
権利者変更日(INPADOC)INPDOWDinpadoc_owner_dates完全一致/範囲/不等号
年金支払年数(INPADOC)INPDPAYinpadoc_payment_year完全一致/範囲/不等号
国内移行国(INPADOC)INPDCNTinpadoc_national_entry_countries完全一致/前方一致/あいまい
国内移行番号(INPADOC)INPDNinpadoc_national_entry_doc_numbers完全一致/前方一致/あいまい
国内移行日(INPADOC)INPDDinpadoc_national_entry_dates完全一致/範囲/不等号
グループ開始(括弧開)(((
グループ終了(括弧閉))))
検索結果集合上位Rresult_set_slice検索結果集合上位
検索式タグTexpr_tagsexpr_tags
引用関係結合CNMcitation_mergecitation
ファミリー結合FMMfamily_mergefamily
ファミリー代表(日本語優先)JREPja_repfamily
ファミリー代表(英語優先)EREPen_repfamily
原出願代表PREPparents_repfamily


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